Pixel Inc.

AI-Integrated Inspection Systems

Strip AFVI

Strip AFVI 자동 외관 검사장비
스트립 단위 최종 외관 검사

고해상도 컬러·Dent 검사Strip AFVI

FC-BGA·FC-CSP 패키지 기판의 Strip 단계에서 미세 외관 결함을 정밀하게 검사합니다.

FC-BGA 및 FC-CSP 패키지 기판의 Strip 단위 최종 외관 검사에 대응합니다.

1 µm급 고해상도 컬러 검사 및 Dent 검사 옵션으로 검사 구성을 확장할 수 있습니다.

Stack 및 Magazine 반송 방식과 양면 자동 검사 구성을 지원하여 검사 운영 효율을 높입니다.

해상도 범위

1-5 um/pixel

고해상도 검사~컬러 검사~덴트 검사까지 하나의 설비에서 목시검사를 대체 가능

적재 방식

Magazine + Stack

매거진과 단적식 모두 대응하여 양면 자동 검사 가능

제품 문의

Strip AFVI 제품군 간단 사양

HR Color & Dent Strip AFVI

S-500SM

1 µm/pixel 고해상도 컬러 광학계와 Dent 검사 광학계를 결합하여, Strip 단위의 미세 외관 결함 및 표면 눌림 결함을 정밀하게 검사하는 고사양 모델입니다.

  • HR Color: 1 um/pixel
  • Dent: 22 um/pixel
  • Metal / SR
  • Normal + HR: 35 sec/strip @1 um/pixel
  • System size: 2,720(W) x 3,200(D) x 2,310(H) mm
  • Color: 2 um/pixel
  • Multi-angle white LED
  • Normal: 25 sec/strip @2 um/pixel
  • Dent: 3 sec/strip
Strip AFVI

S-400SM

FC-BGA 및 FC-CSP 패키지 기판의 Strip 공정에 대응하는 컬러 검사 모델로, Metal 및 SR 영역의 외관 결함을 정밀하게 검사합니다.

  • Color: 2.5-5 um/pixel
  • Metal / SR
  • Normal + HR: 30 sec/strip @2 um/pixel
  • System size: 2,720(W) x 2,550(D) x 2,310(H) mm
  • Multi-angle multi-wavelength
  • Normal: 20 sec/strip @5.5 um/pixel
  • Magazine + stack, both side auto flip
Ceramic AFVI

S-200SM

전력반도체 모듈용 DCB(Direct Copper Bonded) 기판의 Metal 및 SR 영역을 검사하는 AFVI 모델입니다. 다각도·다파장 조명과 Strip Stack 반송 및 자동 반전 방식을 적용하여 양면 외관 검사에 대응합니다.

  • Color: 5.5 um/pixel
  • Metal / SR
  • Strip stack, both side auto flip
  • Multi-angle multi-wavelength
  • 7.5 sec/strip @120 x 180 mm
  • System size: 2,300(W) x 1,250(D) x 1,900(H) mm