검사 이미지 비교
광학·검사·데이터·AI·검증을 연결하는 PIXEL 통합 검사 기술
컬러 영상, 특수 광학, AI 검사, CAD 기반 영역 분할 및 IVS/ICS 기술을 통해 결함 판정의 신뢰성과 검사 운영 효율을 어떻게 높이는지 소개합니다.
검사 이미지 비교
검사 이미지 비교
Color vs Mono
검사 이미지 비교
Color vs UV
검사 이미지 비교
Color vs Dent
Core Technology
각 기술이 어떤 결함 유형에 대응하고, 제조 현장의 운영 과제를 어떻게 해결하는지 살펴볼 수 있습니다.
색상과 질감 차이를 활용한 결함 검사
모노크롬 영상으로 구분하기 어려운 색상과 표면 특성의 차이를 컬러 영상으로 표현하여 결함 판별력과 작업자 판독성을 높입니다.
UV·IR·Dent 특수 광학 기술
결함 유형에 따라 UV, IR 및 Dent 특수 광학계를 적용하여 DFR 잔사, SR 하부 Open/Short, 덴트 등 일반 조명으로 검출하기 어려운 결함에 대응합니다.
룰 기반 검사의 한계를 보완하는 AI 검사
기존 룰 기반 검사에서 검출하기 어려운 크리티컬 영역의 비정형 결함을 AI로 검사하여 검출 사각지대를 보완합니다.
CAD 기반 영역 분할 및 검사 조건 설정
ODB++, Gerber 및 Golden Board 데이터를 활용하여 검사 영역을 생성하고, Bump·Metal·SR·Pattern·Via 등 영역별 세분화(Segmentation)와 검사 조건 설정을 지원합니다.
결함 이미지 기반 리뷰 및 판정
AVI에서 취득한 결함 이미지를 활용하여 결함을 분류·측정하고, 과검출 여부를 검토해 최종 OK/NG 판정을 지원합니다.
All-in-Focus 기반 정밀 재검증
고배율 다중 초점 이미지를 활용한 All-in-Focus 영상과 Pseudo 3D View를 통해 판정이 어려운 결함을 정밀하게 재확인합니다.
레시피 중앙 관리 및 설비 간 전개
CAM 데이터, NAS 및 데이터베이스를 기반으로 검사 레시피를 중앙에서 관리하고, 동일 제품 모델의 설비 간 레시피 전개와 유사 모델의 레시피 재활용을 지원하여 설비별 튜닝 시간을 단축합니다.
검사 데이터 및 결함 정보 통합 관리
각 검사 설비의 결함 판정 결과, 검사 스펙 상태, 결함 발생 트렌드 및 통계 데이터를 중앙에서 통합 관리하여 검사 현황과 품질 추이를 체계적으로 파악할 수 있도록 지원합니다.
검사, 베리파이, AI를 포함한 PIXEL 운영 체계
PIXEL은 검사 장비, Verify, AI 및 레시피 플랫폼을 하나의 시스템에서 통합 운영할 수 있는 기술 아키텍처를 제공합니다.
Panel AVI
Panel 양산 공정에 적용되는 자동 광학 검사 플랫폼으로, 컬러 영상 기반의 결함 검사를 수행합니다.
- 패턴, 이물 및 솔더 레지스트(SR) 관련 결함 검출
- UV/IR 광학 옵션 지원
패턴, 이물 및 솔더 레지스트(SR) 관련 결함 검출Strip & Tray AFVI
Strip, Unit, Tray 형태의 반도체 패키지를 대상으로 최종 외관 검사를 수행하는 자동 광학 검사장비입니다.
- Strip 매거진·스택 및 JEDEC 트레이 핸들링 지원
- 2D/3D 검사 및 Dent·표면 결함 검출
IVS
AVI에서 취득한 결함 이미지를 활용하여 과검출 여부를 검토하고 결함 분류 및 판정을 수행하는 이미지 기반 검증 시스템입니다.
- 결함 맵 기반 이미지 리뷰 및 판정
- 비접촉 Verify 지원
ICS
고배율 All-in-Focus 영상과 Pseudo 3D View를 활용하여 판정이 어려운 결함을 정밀하게 재확인하는 검증 시스템입니다.
- 10배율 렌즈 및 0.345 µm/pixel 해상도
- 포인트당 이미지 취득 시간 1.5초
Pixel Master
CAM 데이터, NAS 및 검사 사양 데이터베이스를 중앙에서 관리하고, 검사 레시피를 여러 장비와 생산 라인에 신속하게 전개할 수 있도록 지원하는 통합 관리 플랫폼입니다.
- 검사 레시피 중앙 집중식 관리
- 다수 장비 및 생산 라인 간 레시피 전개 지원
현장 적용으로 이어지는 PIXEL AI Integration
룰 기반 검사에서 검출하기 어려운 결함까지 보완하는 AI 검사
AVI/AFVI 이미지와 CAM 데이터를 기반으로 주요 검사 영역 및 비정형 결함을 검출하고, 오버킬 패턴 학습을 통해 과검출을 줄입니다. 또한 IVS/ICS 워크플로와 연계하여 최종 판정까지 이어지는 통합 검사 프로세스를 구현합니다.
데이터 준비부터 현장 배포까지
공정별 컬러 검사 이미지를 활용하여 신속한 AI 모델 학습과 수평 전개가 가능합니다.
- 데이터 관리 및 라벨링 프로세스 일원화
- 학습 모델 검증 후 생산 라인에 신속 적용
- 운영 데이터 기반의 지속적인 모델 재학습 체계
제조 현장 검사에 특화된 핵심 AI 기능
결함 검사부터 검사 결과 필터링까지, 제조 현장에서 활용할 수 있는 통합 AI 시스템입니다.
- OK/NG 판정 필터링 및 주요 결함 영역 검사
- 기존 룰 기반 검사와 병행 운영 가능
결함 검출 성능과 운영 효율을 동시에 향상
룰 기반 검사와 AI 검사, 작업자 판정을 유기적으로 연계하여 불량 유출 위험을 줄이고 검사 공정의 인력 효율화를 실현합니다.
- 불량 유출 위험 최소화
- 작업자 리뷰 및 티칭 부담 경감
- IVS/ICS 및 Pixel Master 연계 운영
고객이 직면한 과제와 PIXEL의 해결 방안고객이 직면한 과제와 PIXEL의 해결 방안
PIXEL의 통합 아키텍처는 검사 장비, Verify, AI 및 레시피 플랫폼을 하나의 시스템으로 연계하여 통합 운영을 지원합니다.
흑백 영상 기반 검사에서는 색상 차이 판별에 한계가 있음
결함 유형에 따라 컬러 영상과 다파장 광학 옵션을 활용하여 작업자와 AI가 결함 판별에 필요한 다양한 시각적 정보를 확보할 수 있도록 지원합니다.
과검출로 인한 재판정 및 Verify 작업 부담 증가
IVS, AI 필터링, ICS를 단계별로 연계하여 정밀한 검사 결과 리뷰를 지원하고, 불량 유출 위험을 최소화합니다.
레시피 전개 및 제품 모델 변경 시 반복적인 레시피 작성 부담
Pixel Master를 통한 중앙 집중식 레시피 관리로 동일 제품 모델의 레시피를 설비 간 신속하게 전개하고, 설비별 레시피 튜닝 시간을 단축합니다.
기존 검사 방식의 검출 사각지대 존재
크리티컬 영역에 AI 검사를 적용하여 기존 룰 기반 검사에서 검출하기 어려운 결함까지 검사 범위를 확대합니다.
자동화가 어려워 작업자 육안 검사에 의존하는 공정
덴트(Dent)와 같이 육안 검사에 대한 의존도가 높은 결함도 PIXEL의 특수 광학계를 활용하여 검출할 수 있습니다.
현재 공정에서 어떤 결함이 가장 어려운지 알려주시면 기술 조합부터 제안합니다.검출이 어려운 결함, PIXEL이 검사 솔루션을 제안합니다.
광학·AI·베리파이 기술을 조합하여 고객의 공정과 검사 요구에 맞는 솔루션을 제안합니다.