检测图像对比
融合光学、检测、数据、AI 与验证技术的 PIXEL 一体化检测技术体系
介绍如何通过彩色成像、特殊光学技术、AI 检测、基于 CAD 的区域划分以及 IVS/ICS 技术，提高缺陷判定的可靠性与检测运行效率。
检测图像对比
检测图像对比
Color vs Mono
检测图像对比
Color vs UV
检测图像对比
Color vs Dent
Core Technology
了解各项技术如何应对不同类型的缺陷，并解决生产现场的实际问题。
利用色彩与表面纹理差异进行缺陷检测
利用彩色成像技术呈现单色图像中难以区分的颜色及表面特征差异，提高缺陷识别能力，并使操作人员更容易进行图像判读。
UV、IR 及 Dent 专用光学技术
根据不同缺陷类型，采用 UV、IR 及 Dent 检测专用光学系统，针对 DFR 残留、阻焊层（SR）下方的开路/短路及凹痕（Dent）等常规照明条件下难以检测的缺陷提供检测方案。
弥补规则检测局限性的 AI 检测
利用 AI 对关键区域中传统规则检测难以识别的非典型缺陷进行检测，弥补缺陷检测中的盲区。
基于 CAD 的区域划分与检测条件设置
利用 ODB++、Gerber 及 Golden Board 数据生成检测区域，并支持对 Bump、Metal、SR、Pattern、Via 等区域进行精细化划分（Segmentation）及检测条件设置。
基于缺陷图像的复核与判定
利用 AVI 采集的缺陷图像进行缺陷分类与测量，并复核过检情况，辅助最终 OK/NG 判定。
基于 All-in-Focus 成像的精密复核
利用通过高倍率多焦点图像生成的 All-in-Focus 图像及 Pseudo 3D View，对难以判定的缺陷进行精细复核。
检测配方集中管理与跨设备部署
基于 CAM 数据、NAS 及数据库集中管理检测配方，支持同一产品型号在不同检测设备间的配方部署及相近产品型号的配方复用，缩短各设备的配方调试时间。
检测数据与缺陷信息一体化管理
集中管理各检测设备的缺陷判定结果、检测规格状态、缺陷发生趋势及统计数据，帮助用户系统地掌握检测运行情况与质量变化趋势。
融合检测、验证与AI的 PIXEL 一体化平台
PIXEL 的集成技术架构将检测设备、Verify、AI 及配方平台整合于同一系统，实现一体化运行。
Panel AVI
适用于 Panel 量产工序的自动光学检测设备，利用彩色成像技术进行缺陷检测。
- 图形缺陷、异物及阻焊层（SR）相关缺陷检测
- 支持选配 UV/IR 光学检测功能
图形缺陷、异物及阻焊层（SR）相关缺陷检测Strip & Tray AFVI
适用于 Strip、Unit、Tray 等不同形态半导体封装产品的自动光学检测设备，用于执行最终外观检测。
- 支持 Strip 料盒、堆叠式供料及 JEDEC 托盘搬运
- 支持 2D/3D 检测及 Dent（凹痕）、表面缺陷检测
IVS
基于 AVI 采集的缺陷图像，对过检情况进行复核，并完成缺陷分类与判定的图像验证系统。
- 基于缺陷分布图的图像复核与判定
- 支持基于检测图像的非接触式验证
ICS
利用高倍率 All-in-Focus 成像与 Pseudo 3D View，对难以判定的缺陷进行精密复核的验证系统。
- 10 倍镜头，图像分辨率 0.345 µm/pixel
- 单点图像采集时间：1.5 秒
Pixel Master
集中管理 CAM 数据、NAS 存储及检测规格数据库，支持将检测配方高效部署至多台检测设备和生产线的一体化管理平台。
- 检测配方的集中管理
- 支持跨多台检测设备及生产线部署配方
推动 AI 技术在生产现场落地的 PIXEL AI Integration
弥补规则检测局限性的 AI 检测技术
利用 AVI/AFVI 图像和 CAM 数据，对关键检测区域进行分析并识别非典型缺陷。同时，通过学习过检（Overkill）模式，帮助减少过检，并与 IVS/ICS 工作流程联动，为最终检测判定提供支持。
从数据准备到生产现场部署
利用各工序的彩色检测图像，可实现 AI 模型的快速训练与横向推广应用。
- 数据管理与标注流程一体化
- AI 模型验证后快速部署至生产线
- 基于运行数据的持续模型再训练机制
面向制造业检测的核心 AI 功能
集缺陷检测与检测结果筛选于一体，适用于生产现场的 AI 系统。
- OK/NG 判定结果筛选及关键区域检测
- 可与传统规则检测并行运行
同步提升缺陷检测性能与 运行效率
通过协同整合规则检测、AI 检测及人工复判，降低不良品流出风险，并减少检测工序的人工投入。
- 最大限度降低不良品流出风险
- 减轻操作人员的复判与示教负担
- 与 IVS/ICS 及 Pixel Master 协同运行
客户面临的挑战与 PIXEL 的解决方案客户面临的挑战与 PIXEL 的解决方案
PIXEL 的集成技术架构将检测设备、Verify、AI 及配方平台连接至统一系统，实现一体化运行。
基于单色图像的检测技术在识别颜色差异方面存在局限性
根据不同缺陷类型，采用彩色成像与多波长光学技术，为操作人员和 AI 系统提供更丰富的视觉信息，辅助缺陷识别与判定。
过检导致的重复判定及 Verify 作业负担增加
通过分阶段整合 IVS、AI 筛选与 ICS，实现精细化的检测结果复判，并最大限度降低不良品流出风险。
配方部署及产品型号切换时的重复编制负担
通过 Pixel Master 对检测配方进行集中管理，可将同一产品型号的配方快速部署至多台检测设备，并大幅缩短各设备的配方调试时间。
传统检测方式存在缺陷识别盲区
通过在关键区域应用 AI 检测技术，弥补传统规则检测的局限性，提升对难检缺陷的识别能力。
难以实现自动化的人工目视检测工序
对于 Dent（凹痕）等以往主要依赖人工目视检测的缺陷，也可利用 PIXEL 的特殊光学系统进行检测。
请告知当前工艺中 最难应对的缺陷 我们将从技术组合开始提案。面对难以检测的缺陷， PIXEL 为您提供检测解决方案。
结合光学、AI 及缺陷复核技术，根据客户的生产工艺和检测需求，提供定制化检测解决方案。