Pixel Inc.

AI-Integrated Inspection Systems

技术

整合光学、检测、数据、AI、Verify 系统 的 PIXEL 检测技术体系

介绍 Color imaging、special optics、AI inspection、CAD segmentation、IVS / ICS 如何提升实际判定品质与运营效率。
对比图像

Color vs IR

对比图像

Color vs Mono

对比图像

color vs UV

对比图像

Color vs Dent

Core Technology

可了解各项技术针对哪些缺陷类型与运营课题提供解决方案。
彩色检测

承载更多缺陷信息的彩色图像

相比 Mono 图像，更丰富地呈现色彩与纹理差异，提升缺陷分辨力与作业员判读性。

专用光学

UV, IR, Dent 光学

检出 DFR 残留、SR 下部 Open/Short、Dent 缺陷等常规照明难以应对的缺陷。

AI 检测

AI 检测

对 Rule-Based 检测无法覆盖的关键区域进行 AI 检测。

数据平台

CAD 区域分割与数据管理

基于 ODB++、Gerber、Golden Board 生成检测区域，分类 Bump / Metal / SR / Pattern / Via 等区域，可按区域进行精细 Segmentation 与检测设定。

IVS

图像 Verify

直接利用 AVI 缺陷图像，执行分类、测量、过检剔除与最终 OK / NG 判定。

ICS

All-in-Focus 精密 Verify

通过高倍率多层图像获取，仅对难判定缺陷精密再确认，并提供 3D 视图。

Pixel Master

Recipe 集中管理

基于 CAM / NAS / DB 集中管理，加快同型号机台间部署与相似型号复用，并缩短各设备 Recipe 调参时间。

Data Master

缺陷信息统一管理

可在中央统一管理全部检测设备的缺陷判定、Spec 状态、缺陷趋势及统计。

涵盖检测、Verify、AI 的 PIXEL 运营体系

PIXEL 技术架构使检测设备、Verify、AI、recipe platform 可在同一体系中运营。
中段检测

Panel AVI

作为 Panel 量产检测主平台，基于彩色图像进行缺陷检出。

  • Pattern, contamination, SR-related 缺陷检出
  • UV and IR option available
最终检测

Strip & Tray AFVI

面向 Strip、unit、tray 的 Package 外观检测优化产品系列。

  • Strip magazine + stack and JEDEC tray operation
  • 2D / 3D AFVI, dent and surface defect 应对
Verify

IVS

直接利用 AVI 缺陷图像，执行过检剔除与 defect classification。

  • Defect map based review
  • Remote and touchless verification
精密 Verify

ICS

以高倍率 All-in-Focus imaging 与 Pseudo 3D View，仅对难判定缺陷精密再确认。

  • x10 lens, 0.345 um/pixel
  • 1.5 sec per point capture
平台

Pixel Master

集中管理 CAM / NAS / spec database，加快型号扩散与设备间部署速度。

  • Central recipe management
  • Multi-line deployment support

延伸至现场应用的 PIXEL AI Integration

补强 Rule-Based 检测易遗漏区域的 AI 检测

基于 AVI / AFVI 图像与 CAM 数据检测关键区域与非规则缺陷，学习 Overkill 模式并与 IVS / ICS 工作流联动至最终判定。

从数据准备到现场部署

利用各工艺彩色检测图像，可实现快速训练与横向部署。

  • 数据管理与标注流程一体化
  • 训练模型验证后立即产线应用
  • 基于运营数据的再训练结构

面向制造检测的主要 AI 功能

从检测到过滤，均可在现场使用的 AI 系统。

  • OK/NG 过滤 / 关键区域检测
  • 可与 Rule-Based 检测并行运营

同步改善检出性能与 运营效率

联动 Rule-Based 检测、AI 检测与作业员，抑制 NG 漏检风险并实现作业员减员。

  • NG 漏检归零
  • 减轻作业员 Review 与 Teaching 负担
  • IVS / ICS / Pixel Master 联动运营

客户感知的问题 与解决方向

PIXEL 技术架构使检测设备、Verify、AI、recipe platform 可在同一体系中运营。
01

Mono 检测难以判读色差

根据缺陷类型采用彩色图像与多波段光学选项，为作业员与 AI 获取更多缺陷线索。

02

过检处理与 Verify 负担大

分阶段组合 IVS、AI 过滤、ICS，在不漏检 NG 缺陷的前提下实现精密 Review。

03

Recipe 部署与机型切换编写负担大

通过 Pixel Master 集中管理，加快同型号机台间部署速度，大幅缩短各设备 Recipe 调参时间。

04

存在盲区

对关键区域应用 AI 检测，可检出 Rule-Based 检测无法覆盖的缺陷。

05

无法自动化的目检

Dent 缺陷等高度依赖目检的缺陷，亦可通过 PIXEL 专用光学系统检出。

请告知当前工艺中 最难应对的缺陷 我们将从技术组合开始提案。

可结合工艺条件，评审 Color、UV、IR、Dent、AI、IVS、ICS 中哪些维度为所需。
联系我们